Цель обнаружения
Идентификация полимерных материалов
Введение
Идентификация полимерных материалов включает качественный или количественный анализ и характеристику их состава, структуры и свойств. Полимерные материалы широко используются в пластмассах, резине, волокнах, покрытиях и композитных материалах и включают в себя широкий спектр типов (таких как полиэтилен, полипропилен, полиамид и эластомеры), часто содержащих сополимеры, смеси, добавки и наполнители. В производстве, контроле качества и анализе отказов необходимо определять химическую структуру материала (например, состав мономеров, стереоконфигурацию и степень сшивания), термические свойства, распределение молекулярной массы и содержание примесей для обеспечения стабильных характеристик продукта, соответствия требованиям применения и соблюдения экологических норм и правил безопасности. Поэтому систематическая идентификация с использованием инфракрасной спектроскопии стала важной частью науки и техники полимеров.
Аппарат
Спектрометр ХКЛ-ИК-спектроскопия для анализа полимерных материалов
Технические характеристики
Спектральный диапазон: 7800–350 см⁻¹-1
Разрешение: лучше 1,0 см-1
Соотношение сигнал/шум: 30000:1 (пиковое значение, 4 см)-1разрешение, фоновое и тестовое сканирование (1 минута), тестовое волновое число: 2100 см⁻¹.-1), Среднеквадратичное значение: 150000:1
Детектор: Высокочувствительный инфракрасный детектор (импортный) (Преимущества: высокая точность измерений, отличная воспроизводимость, простота обслуживания и долговечность.)
Разделитель лучей: многослойное покрытие из бромида калия (КБр) (импортное).
Скорость сканирования: Управление осуществляется микрокомпьютером, скорость сканирования выбирается индивидуально, плавно регулируется, автоматическое сравнение спектров.
Источник света: Долговечная высокоинтенсивная система воздушного охлаждения (импортная).
Точность измерения волнового числа: 0,01 см-1
Программная рабочая станция: В комплект поставки прибора входит приблизительно 200 000 стандартных библиотек инфракрасных спектров для поиска, сравнения и анализа пользователем.
Уровень шума: <4,3 × 10-5А
Источник питания: переменный ток 220 В, 50 Гц
Интерфейс передачи данных: высокоскоростной USB 2.0
Операционная система: Windows 7/Windows 10
Вес: 14 кг
Конфигурация
Имя | Технические параметры | Число |
Спектрометр ХКЛ-ИК-спектроскопия для анализа полимерных материалов | Подробную информацию см. в технических характеристиках, указанных выше. | 1 единица |
Программная рабочая станция (выделенная) | 1. Возможности маркировки и аннотирования спектра 2. Расширенные функции обработки данных 3. Функции поиска и сравнения спектра 4. Функция журнала аудита 5. Система самодиагностики 6. Добавление пользовательской библиотеки спектров 7. Инструменты анализа сопоставления спектров 8. Поддержка стандартных форматов файлов 9. Включены пожизненные бесплатные обновления программного обеспечения. | 1 комплект |
Аксессуар АТР (ЛА-100) | 1. Оригинальный импортный аксессуар для АТР-спектроскопии с однократным отражением и кристаллом ZnSe (угол падения 45°). 2. Основные области применения: упаковочные материалы для фармацевтической и пищевой промышленности, смолы, резина и т. д. | 1 комплект |
ЭлектронныйВлажностьКонтролируемыйШкаф (HW-10) | 1. Преданный 2. Электронная система контроля температуры эффективно предотвращает повреждение приборов, вызванное изменениями внешней среды. | 1 единица |
Решение
Метод ослабленного полного внутреннего отражения (АТР)
Применение: Подходит для инфракрасной спектроскопии при исследовании таблеток, пластиковых бутылок, пленок, листов и образцов резины.
Необходимый аксессуар: Прибор для однократного отражения АТР (в стандартной комплектации с кристаллом из селенида цинка; опционально доступны алмазные или германиевые кристаллы).
Принцип работы: Измерение основано на принципе полного внутреннего отражения.
Процедура
1) Возьмите тщательно очищенный и плоский образец, а затем плотно прижмите его к кристаллу АТР (ZnSe, селенид цинка).
2) Инфракрасный спектр регистрируется непосредственно посредством отражения.
3) Весь процесс быстрый и простой, не требующий предварительной обработки образцов для соответствия требованиям тестирования.